ピカリング インターフェースがRFスイッチング密度の大幅な向上を可能にする300MHz対応、32x8の新型PXI/PXIeモジュールを発表

コンパクトな4x-724ファミリ、高性能RFスイッチング・システムのスケーラビリティを実現し、テスト・サイクル時間を短縮

電気テストと検証向けモジュラー型シグナル・スイッチング/シミュレーション・ソリューションのリーディング・サプライヤであるピカリング インターフェース（本社：英国、クラクトン・オン・シー）は、シャーシ・スロット当たりのマトリクス密度を33%向上する32x8構成の新しい統合型PXI RFマトリクス・モジュールを発表しました。コンパクトなフットプリントを持つ新製品「40-724」PXIモジュールと「42-724」PXIeモジュールは、高い性能と300MHzの使用可能な帯域幅を提供し、非ループスルー・モデルに対応します。
　　　　　　
新製品はマトリクス拡張を必要とする大型アプリケーション向けに、Y軸にループスルー・ポートを備えたオプションも用意しており、シンプルな拡張が可能です。テスト・システム構成の粒度を最大化するため、4x-724ファミリには16x4、16x8、32x4、そして完全実装の32x8と、4つのマトリクス・サイズが用意されています。すべてのマトリクス・サイズでループスルー対応オプションを用意しています。ループスルー・ポートがマトリクスに直接接続されているため、他のRFマトリクス製品と異なり、複数モジュールのカスケード時にカード間でX-to-X信号パスの作成が可能です。この機能はテスト・システムの柔軟性を高めますが、RF性能が低下します。
　　　　　　　
ピカリング インターフェースのスイッチング・プロダクト・マネージャーのスティーブ・エドワーズは「このファミリではピカリングの既存RFマトリクス・モジュール技術を基に、50Ωテスト・アプリケーションでの使用向けに、最大マトリクス・サイズを32x8に引き上げました。従来製品よりも大幅に高密度化したことにより、わずか2つのシャーシ・スロットで複雑なスイッチング・システムの構成が可能になりました」と述べました。
　　　　　　
「4x-724」RFマトリクス・モジュールはルテニウムをスパッタリングした高品質のリードリレーを採用しており、長寿命を提供します。また、リードリレーの動作時間はわずか0.5ms（標準値）で、電気機械式リレーに比べ大幅に短く、テスト・サイクル時間の最小化と製品テスト・スループットの向上が可能です。
　　　　　　　
新モジュールはPXIとPXIeの制御インターフェースで提供されるため、フレキシブルなシャーシ選択が可能になります。すべてのバージョンで業界標準SMBコネクタを使用しており、システム性能の最大化とともに、外部の計測機器とDUT（被試験デバイス）へのインターフェースの簡素化が可能になります。
　　　　　　　
新「4x-724」RFマトリクス・モジュールは緊急無線や半導体テストなど多数のアプリケーションの汎用RFテスト向けの製品です。「4x-724」の全バージョンが、リレーの寿命を判定する予防保全テストに使用可能なピカリングのeBIRSTスイッチング・システム・テスト・ツールによりサポートされています。また、eBIRSTツールにより故障の早期発見が可能になり、システムのダウンタイムを最小限に抑えられます。ピカリングのコネクタ部門では、テスト・システムへモジュールを統合することによりサポート可能な標準/カスタム・ケーブル・ソリューションを提供しています。
　　　　　　　
ピカリング インターフェース
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