IARシステムズ、高性能なランタイム解析アドオン製品「C-RUN」を展示

アイエーアール・システムズ(C-21)が展示するIAR Embedded Workbench for ARMに完全統合された新製品「C-RUN」を紹介

etw_crunアイエーアール・システムズはETWest2014に出展し、5月に発表した新製品「C-RUN」を展示紹介する。


「C-RUN」は、高性能なランタイム解析アドオン製品であり、IAR Embedded Workbench for ARMに完全統合されたことで、アプリケーション実行状態を直接的にモニタリングしながら開発者に強力で簡単に利用できる動的解析を提供する。

 

「C-RUN」は、ARM開発ツールチェーンとの統合で、コンパイルからターゲットへの実装、テスト、デバッグといった開発サイクルを完全にサポートする。

 

このARM用C-RUNは、配列や他のオブジェクトに対するアクセスが境界内にあるかのチェックや、異なるオーバーフロー、包括的なヒープチェックと算術計算のチェックなどいくつもの強力な機能を備え、柔軟に設定ができることで、開発者の個別のニーズに合わせた動的解析のカスタマイズをすることが可能となっている。

 

またブース内では、「新製品C-RUNを中心とした大規模システムのデバッグ手法のご紹介!」「EWARMを用いたソフトウェア可視化ノウハウのご紹介!」「短期間IoT開発でのノウハウを伝授!」「ソフトウェアの品質を高めるための3つのキーポイント」など、C-RUNやソフトウェア開発の貴重なテクニカル情報がわかるプレゼンテーションを実施する(詳細 http://www.jasa.or.jp/etwest/2014/exhibitor/presentation.html)。


■アイエーアール・システムズ(C-21)の出展社情報
http://www.jasa.or.jp/etwest/2014/search/index.php?id=48

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